SN74LVTH182504APM

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH182504APM P1
SN74LVTH182504APM P1
Les images sont fournies à titre indicatif.
Voir les caractéristiques du produit pour plus de détails.

Texas Instruments ~ SN74LVTH182504APM

Numéro d'article
SN74LVTH182504APM
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
- SN74LVTH182504APM PDF online browsing
Famille
Logique - Logique spécialisée
  • En stock $ Quantité pcs
  • Prix ​​de référence : submit a request

Soumettez une demande d'offre sur des quantités supérieures à celles affichées.

Produit Paramètre

Tous les produits

Numéro d'article SN74LVTH182504APM
État de la pièce Active
Type de logique ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tension d'alimentation 2.7 V ~ 3.6 V
Nombre de bits 20
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 64-LQFP
Package de périphérique fournisseur 64-LQFP (10x10)

Produits connexes

Tous les produits