SN74LVTH182504APM

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH182504APM P1
SN74LVTH182504APM P1
Изображения служат только для ознакомления. Подробную информацию см. В технических характеристиках продукта.

Texas Instruments ~ SN74LVTH182504APM

номер части
SN74LVTH182504APM
производитель
Texas Instruments
Описание
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Бессвинцовый статус / RoHS Статус
Бессвинцовый / Соответствует RoHS
Техническая спецификация
- SN74LVTH182504APM PDF online browsing
семья
Логика - специальная логика
  • На складе $ Количество шт
  • Справочная цена : submit a request

Подать запрос цен на количество, превышающее отображаемое.

Параметр продукта

Все продукты

номер части SN74LVTH182504APM
Статус детали Active
Тип логики ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Напряжение питания 2.7 V ~ 3.6 V
Количество бит 20
Рабочая Температура -40°C ~ 85°C
Тип монтажа Surface Mount
Упаковка / чехол 64-LQFP
Пакет устройств поставщика 64-LQFP (10x10)

сопутствующие товары

Все продукты