SN74ABT8646DW

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
SN74ABT8646DW P1
SN74ABT8646DW P1
Resimler sadece referans amaçlıdır.
Ürün detayları için Ürün Teknik Özellikleri bölümüne bakınız.

Texas Instruments ~ SN74ABT8646DW

Parça numarası
SN74ABT8646DW
Üretici firma
Texas Instruments
Açıklama
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu
Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
Veri Sayfası
- SN74ABT8646DW PDF online browsing
Aile
Mantık - Özel Mantık
  • Stokta $ Adet Adet
  • Referans fiyatı : submit a request

Görüntülenenlerden daha büyük miktarlarda Teklif İsteği gönderin.

Ürün parametresi

Tüm ürünler

Parça numarası SN74ABT8646DW
Parça Durumu Active
Mantık Tipi Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Besleme gerilimi 4.5 V ~ 5.5 V
Bit Sayısı 8
Çalışma sıcaklığı -40°C ~ 85°C
Montaj tipi Surface Mount
Paket / Durum 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Tedarikçi Aygıt Paketi 28-SOIC

ilgili ürünler

Tüm ürünler