SN74BCT8244ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
SN74BCT8244ANTG4 P1
SN74BCT8244ANTG4 P1
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Texas Instruments ~ SN74BCT8244ANTG4

品番
SN74BCT8244ANTG4
メーカー
Texas Instruments
説明
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
鉛フリーステータス/ RoHSステータス
鉛フリー/ RoHS準拠
データシート
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家族
ロジック - 特殊ロジック
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製品パラメータ

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品番 SN74BCT8244ANTG4
部品ステータス Obsolete
ロジックタイプ Scan Test Device with Buffers
供給電圧 4.5 V ~ 5.5 V
ビット数 8
動作温度 0°C ~ 70°C
取付タイプ Through Hole
パッケージ/ケース 24-DIP (0.300", 7.62mm)
サプライヤデバイスパッケージ 24-PDIP

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