SN74ABT8543DL

IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABT8543DL P1
SN74ABT8543DL P1
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Texas Instruments ~ SN74ABT8543DL

Numéro d'article
SN74ABT8543DL
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
- SN74ABT8543DL PDF online browsing
Famille
Logique - Logique spécialisée
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Numéro d'article SN74ABT8543DL
État de la pièce Active
Type de logique Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Package de périphérique fournisseur 28-SSOP

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