SN74ABT18640DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
SN74ABT18640DGGR P1
SN74ABT18640DGGR P1
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Texas Instruments ~ SN74ABT18640DGGR

Numéro d'article
SN74ABT18640DGGR
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
- SN74ABT18640DGGR PDF online browsing
Famille
Logique - Logique spécialisée
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Numéro d'article SN74ABT18640DGGR
État de la pièce Obsolete
Type de logique Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 18
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Package de périphérique fournisseur 56-TSSOP

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