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| Número de pieza | 8V182512IDGGREP |
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| Estado de la pieza | Active |
| Tipo de lógica | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Voltaje de suministro | 2.7 V ~ 3.6 V |
| Cantidad de bits | 18 |
| Temperatura de funcionamiento | -40°C ~ 85°C |
| Tipo de montaje | Surface Mount |
| Paquete / caja | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| Paquete de dispositivo del proveedor | 64-TSSOP |
| Imagen | Número de pieza | Fabricantes | Descripción | En stock | Ver | |
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8V182512IDGGREP | Texas Instruments | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP | - | 0 | Detalles |