SN74ABT18502PM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74ABT18502PM P1
SN74ABT18502PM P1
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Texas Instruments ~ SN74ABT18502PM

부품 번호
SN74ABT18502PM
제조사
Texas Instruments
기술
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
무연 여부 / RoHS 준수 여부
무연 / RoHS 준수
데이터 시트
- SN74ABT18502PM PDF online browsing
가족
논리 - 특수 논리
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제품 매개 변수

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부품 번호 SN74ABT18502PM
부품 상태 Active
논리 유형 Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
전원 전압 4.5 V ~ 5.5 V
비트 수 18
작동 온도 -40°C ~ 85°C
실장 형 Surface Mount
패키지 / 케이스 64-LQFP
공급 업체 장치 패키지 64-LQFP (10x10)

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