SN74ABT18502PM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74ABT18502PM P1
SN74ABT18502PM P1
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Texas Instruments ~ SN74ABT18502PM

Número de pieza
SN74ABT18502PM
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Estado sin plomo / Estado RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
Ficha de datos
- SN74ABT18502PM PDF online browsing
Familia
Lógica - Lógica de especialidades
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Número de pieza SN74ABT18502PM
Estado de la pieza Active
Tipo de lógica Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Voltaje de suministro 4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits 18
Temperatura de funcionamiento -40°C ~ 85°C
Tipo de montaje Surface Mount
Paquete / caja 64-LQFP
Paquete de dispositivo del proveedor 64-LQFP (10x10)

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