SN74BCT8240ADWRG4

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
SN74BCT8240ADWRG4 P1
SN74BCT8240ADWRG4 P1
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Produktdetails finden Sie unter Produktspezifikationen.

Texas Instruments ~ SN74BCT8240ADWRG4

Artikelnummer
SN74BCT8240ADWRG4
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
- SN74BCT8240ADWRG4 PDF online browsing
Familie
Logik - Speziallogik
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Produktparameter

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Artikelnummer SN74BCT8240ADWRG4
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC

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