SN74ABT18502PM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74ABT18502PM P1
SN74ABT18502PM P1
Bilder dienen nur als Referenz.
Produktdetails finden Sie unter Produktspezifikationen.

Texas Instruments ~ SN74ABT18502PM

Artikelnummer
SN74ABT18502PM
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
- SN74ABT18502PM PDF online browsing
Familie
Logik - Speziallogik
  • Auf Lager $ Anzahl Stk
  • Referenzpreis : submit a request

Senden Sie eine Angebotsanfrage für größere Mengen als angezeigt.

Produktparameter

Alle Produkte

Artikelnummer SN74ABT18502PM
Teilstatus Active
Logiktyp Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)

Verwandte Produkte

Alle Produkte