SN74ABT8646DW

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
SN74ABT8646DW P1
SN74ABT8646DW P1
Изображения служат только для ознакомления. Подробную информацию см. В технических характеристиках продукта.

Texas Instruments ~ SN74ABT8646DW

номер части
SN74ABT8646DW
производитель
Texas Instruments
Описание
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Бессвинцовый статус / RoHS Статус
Бессвинцовый / Соответствует RoHS
Техническая спецификация
- SN74ABT8646DW PDF online browsing
семья
Логика - специальная логика
  • На складе $ Количество шт
  • Справочная цена : submit a request

Подать запрос цен на количество, превышающее отображаемое.

Параметр продукта

Все продукты

номер части SN74ABT8646DW
Статус детали Active
Тип логики Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Напряжение питания 4.5 V ~ 5.5 V
Количество бит 8
Рабочая Температура -40°C ~ 85°C
Тип монтажа Surface Mount
Упаковка / чехол 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Пакет устройств поставщика 28-SOIC

сопутствующие товары

Все продукты