SN74BCT8245ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
SN74BCT8245ANTG4 P1
SN74BCT8245ANTG4 P1
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Texas Instruments ~ SN74BCT8245ANTG4

Numero di parte
SN74BCT8245ANTG4
fabbricante
Texas Instruments
Descrizione
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
Stato senza piombo / Stato RoHS
Senza piombo / RoHS
Scheda dati
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Famiglia
Logici - Logica speciale
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Numero di parte SN74BCT8245ANTG4
Stato parte Obsolete
Tipo di logica Scan Test Device with Bus Transceivers
Tensione di alimentazione 4.5 V ~ 5.5 V
Numero di bit 8
temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio Through Hole
Pacchetto / caso 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pacchetto dispositivo fornitore 24-PDIP

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