SN74BCT8374ADWR

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
SN74BCT8374ADWR P1
SN74BCT8374ADWR P1
Las imágenes son sólo para referencia.
Ver especificaciones del producto para detalles del producto.

Texas Instruments ~ SN74BCT8374ADWR

Número de pieza
SN74BCT8374ADWR
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado sin plomo / Estado RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
Ficha de datos
- SN74BCT8374ADWR PDF online browsing
Familia
Lógica - Lógica de especialidades
  • En stock $ Cantidad pcs
  • Precio de referencia : submit a request

Enviar una solicitud de cotización en cantidades mayores que las mostradas.

Parámetro del producto

Todos los productos

Número de pieza SN74BCT8374ADWR
Estado de la pieza Obsolete
Tipo de lógica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de suministro 4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits 8
Temperatura de funcionamiento 0°C ~ 70°C
Tipo de montaje Surface Mount
Paquete / caja 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor 24-SOIC

Productos relacionados

Todos los productos