SN74BCT8240ADW

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
SN74BCT8240ADW P1
SN74BCT8240ADW P1
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Texas Instruments ~ SN74BCT8240ADW

Número de pieza
SN74BCT8240ADW
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Estado sin plomo / Estado RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
Ficha de datos
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Familia
Lógica - Lógica de especialidades
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Parámetro del producto

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Número de pieza SN74BCT8240ADW
Estado de la pieza Active
Tipo de lógica Scan Test Device with Inverting Buffers
Voltaje de suministro 4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits 8
Temperatura de funcionamiento 0°C ~ 70°C
Tipo de montaje Surface Mount
Paquete / caja 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor 24-SOIC

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