SN74ABT8652DWRE4

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
SN74ABT8652DWRE4 P1
SN74ABT8652DWRE4 P1
Las imágenes son sólo para referencia.
Ver especificaciones del producto para detalles del producto.

Texas Instruments ~ SN74ABT8652DWRE4

Número de pieza
SN74ABT8652DWRE4
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Estado sin plomo / Estado RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
Ficha de datos
- SN74ABT8652DWRE4 PDF online browsing
Familia
Lógica - Lógica de especialidades
  • En stock $ Cantidad pcs
  • Precio de referencia : submit a request

Enviar una solicitud de cotización en cantidades mayores que las mostradas.

Parámetro del producto

Todos los productos

Número de pieza SN74ABT8652DWRE4
Estado de la pieza Obsolete
Tipo de lógica Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Voltaje de suministro 4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits 8
Temperatura de funcionamiento -40°C ~ 85°C
Tipo de montaje Surface Mount
Paquete / caja 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor 28-SOIC

Productos relacionados

Todos los productos